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编码方法通过压缩原始测试数据达到减少测试数据量的目的,是解决集成电路测试过程中测试数据量快速增长的有效方法之一。提出一种新的长度折半的测试数据编码方法,该方法首先对测试数据同时按0游程和1游程进行划分,然后对划分进行长度折半,编码。该方法既减少了编码的游程数量,又减少了编码的游程长度,可以在不增加代码长度的情况下增加能编码的游程长度。理论分析证明该方法具有极高的压缩效率,同时该方法解压结构简单,且独立于测试数据。实验结果表明:该方法平均压缩率达到65.13%。因此该方法具有很高的性价比,具有一定的应