X射线荧光光谱法在镁钙质耐火材料测定中的应用

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  摘要: 采用熔融的方法进行制样,并以标准样品和高纯试剂配制熔融的系列标准玻璃片来建立校准曲线,采用灼烧后的样品与混合溶剂(四硼酸锂:偏硼酸锂=1:1)在高温条件下熔融成片,用X射线荧光光谱法测定镁钙质耐火材料中的SiO2、CaO、MgO、Fe2O3、Al2O3等组分含量,本方法分析的结果精密度和准确度高,分析速度快。
  关键词: 镁钙质;熔融法X-射线荧光光谱法分析;耐火材料
  中图分类号:O657.3 文献标识码:A 文章编号:1671-7597(2011)1110011-02
  1 概述
  镁钙质耐火材料是以MgO和CaO为主要化学成分的碱性复合耐火制品[1],包括各种烧成镁钙砖、镁钙砂,不烧镁钙(碳)砖和镁钙质中间包涂料及干式捣打料等[2]。镁钙砖具有优良的使用性能,尤其具有净化钢水性能是其他类耐火材料所不具备的。因此,镁钙砖被大量地应用于AOD炉、VOD炉和LF炉等精炼设备上,并取得了良好的使用效果。目前镁钙质耐火材料中各常见组分的定量分析通常采用滴定法和比色法[3],但这些方法操作程序烦杂,分析周期长,分析误差也较大且难以控制。而采用熔融法制样,X-射线荧光光谱法分析,可以消除矿物结构效应、颗粒效应、非均匀性效应,可以同时分析样品中的多个元素,在保证分析结果准确性和稳定性的前提下,提高分析速度,减小人为误差。
  2 实验部分
  2.1 主要仪器及试剂
  S4 Pioneer型X射线荧光光谱仪
  加拿大CLAISSE自动熔样机、铂-金合金坩埚及模具
  万分之一电子天平
  四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂(质量比为1:1)
  溴化锂(分析纯,脱模剂)
  高纯试剂:二氧化硅、氧化铝、氧化镁、碳酸钙
  2.2 测量条件
  仪器测量条件见表1。
  表1X射线荧光光谱仪的测量条件
  
  2.3 试料的制备
  2.3.1 灼烧及灼烧减量的测定
  称取1.0000g±0.0002g样品于预先在1050℃±50℃温度下灼烧至恒重的瓷坩埚内,放入1050℃±50℃马弗炉内灼烧1h,取出,稍冷,放入干燥器中冷却至室温,称重,再将试样和坩埚再放入马弗炉内反复灼烧至恒重,计算灼烧减量。
  LOI=(W1-W2)×100/W
  式中:LOI-试料的烧失量,%;
  W1-试料和坩埚灼烧前的重量,g;
  W2-试料和坩埚灼烧后的重量,g;
  W-试料的质量。
  2.3.2 样品与熔剂比的选择
  较高的稀释比适用于试样中质量分数较高的元素,而我们所测的样品是经过灼烧后熔融,其中MgO含量高达70%以上,最小的Al2O3含量也在0.30%以上。经过试验,采用1:10的稀释比例,能制成高质量的玻璃样片,能减少称量误差,可以消除或降低基体的增强吸收效果,而且能够满足X射线各个元素的测量要求。
  2.3.3 熔融样品
  称取6.0000±0.0002g混合溶剂(四硼酸锂:偏硼酸锂=1:1)和0.6000g±0.0002g灼烧后的样品置于铂黄金坩埚中混合均匀,滴加7滴饱和溴化锂溶液。放入自动熔样机中进行熔融,熔样温度为1100℃,将熔融好的样品自动倒入预热的铂黄金模具内,冷却成供分析用的玻璃熔片。
  2.4 校准曲线的建立
  用5个镁砂标样和高纯试剂配制了11个标准样品,按2.3制样条件制备标准玻璃片,按2.2仪器测量条件测定校准样品的X荧光强度,用随机分析软件Spectraplus进行回归,求出校准曲线的斜率、截距,用理论α影响系数法进行基体效应校正。由于BrKα与ALKα严重重叠,对BrKα进行了重叠校正。
  2.4.1 漂移校正的建立
  工作曲线建立好后,必须马上做仪器漂移校正,令第一次测得的标准化样品的响应强度Is存入数据文件,在分析未知样品时,首先测定标准化样品,这时候测定的响应元素的强度为Im,以下式求的校正常数,K=Is/Im再乘以测得试样强度,即为校正后强度,用于计算试样待测元素的浓度。
  注:用做校正仪器漂移的试样,必须是长时间内不变化的均一试样,一般情况下,选择国家标准样品。
  2.4.2 样品测量
  按照2.3的方法将待测样品制备成分析用的玻璃熔片。将试片放入光谱仪中,运行分析程序,人工输入灼烧减量数值,计算机自动计算出试样各元素的百分含量。
  3 结果与讨论
  3.1 灼烧减量的校正
  灼烧碱量是指经灼烧样品还原组分氧化和使结晶水、吸附水、有机质、碳酸盐及硫磷等组分在高温下分解的总量。由于镁钙质耐火材料吸水性强,且常用石蜡等有机物做结合剂,所以灼烧减量较高,试验发现,灼烧减量高的样品对高含量成分影响较大,难以得到准确结果。所以测定镁钙质耐火材料必须用测定灼烧减量后样品进行熔片,灼烧的目的是保证在熔融过程中不再发生重量变化,使样品中的重量一致,能够减少称量误差,并且能够得到透明、均匀的玻璃片。
  3.2 方法的精密度
  选取某镁钙砖样品熔融11次,按实验方法进行测量,结果见表2。
  3.3 准确度试验
  为了验证本方法的准确性,对3个标准样品和3个已知化学分析结果的普通样品进行测定,其结果见表3。可以看出,本方法的测定结果与化学分析方法的结果较一致。
  表2测定结果的精密度%
  
  4 结果
  1)用X射线荧光光谱仪分析镁钙质耐火材料中的主要元素,具有快速,简便,准确度高,分析范围广等特点,作为企业生产过程中质量控制的一种准确,快速的分析手段是完全可行的。
  2)应用X荧光光谱仪对样品进行分析,可以说是清洁生产,减少了废气的排放,没有了化学物质对水、大气的污染,有利于环境保护。
  3)以标准样品和纯试剂配制出系列标准玻璃片,解决了镁钙质耐火材料无系列标准样品的问题。
  表3X荧光法分析结果与化学法分析结果的比对(w)
  
  参考文献:
  [1]张兴业,镁钙砖的使用性能及其影响因素分析,山东冶金,2010,32(3):2-3.
  [2]张兴业、杨林、杨帆,我国镁钙质耐火材料的生产和使用现状,山东冶金,2006,28(4):28-29.
  [3]GB/T5069-2007,镁铝系耐火材料化学分析方法.
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