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采用磁控溅射法制备居里温度（Tc）略低于奈尔温度（TN）的Cr／Gd双层薄膜．利用振动样品磁强计研究薄膜在不同温度下的磁滞特性．结果表明：该类薄膜系统与Tc〉TN的铁磁／反铁磁双层薄膜的磁滞特性不同，当测量温度（T）大于Tc时，Gd层处于铁磁态，矫顽力（HC）随温度非单调变化；当T为80～205K时，Hc随温度增加逐渐减小；在T=205K出现一个极小值后逐渐增大；在T=255K附近出现一个主峰；当T为255～295K时，Hc随温度升高迅速减小；当T〉295K时，Hc随温度升高迅速增大．即铁磁／反铁磁界面处