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阐述了中子辐照对ＩＧＢＴ特性的影响，给出了器件在中子辐射注量高达１０＾１３ｎ／ｃｍ＾２时的实验结果。实验发现，随着中子注量的增加，开关时间缩短，阈值电压漂移。对于所研究的注量范围，所观察的效应是由于ＩＧＢＴ少子寿命减少造成的，而不是由于有效掺杂浓度变化所致。
辐照对IGBT特性的影响
【摘 要】
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阐述了中子辐照对ＩＧＢＴ特性的影响，给出了器件在中子辐射注量高达１０＾１３ｎ／ｃｍ＾２时的实验结果。实验发现，随着中子注量的增加，开关时间缩短，阈值电压漂移。对于所研究的注量范围，所观察的效应是由于ＩＧＢＴ少
【机 构】
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西安电力电子技术研究所
【出 处】
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半导体杂志
【发表日期】
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1997年4期
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ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清华大学发明人:隋森芳文摘:本发明属于生物技
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