【摘 要】
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原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种研究材料表面性质的强大工具,其核心部件是一根用于扫描的微悬臂梁,即力的传感器。微悬臂梁一端固定,一端自由,自由端的端部存在可以探测样品表面的针尖。原子力显微镜在轻敲模式下(Tapping Mode)工作时,微悬臂梁会被激发到接近其谐振频率振动,针尖会随着微悬臂梁的振动甩荡开来,通过针尖与样品表面之间的作用力变化反馈出样品表
【基金项目】
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国家自然科学基金资助项目(NSFC 11572031):原子力显微镜形貌测量的湿度影响及其机理研究;