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利用X射线异常散射技术分析了Bi的插入对Co/FeMn中各元素分布的影响.实验发现在FeMn/Co和Co/FeMn界面处均存在着14A的过渡层.在Co/Bi/FeMn多层膜中各元素的分布与Co/FeMn中的相似,只是FeMn层的成分变成了FeMnBi<,x>,其中x=0.025-0.03.利用小角DAFS技术分析了多层膜内各元素的横向分布情况,结果发现,插入Bi前,FeMn和Co具有相同的横向分布,而插入Bi之后,Fe和Mn仍然具有相同的横向分布,而Co的横向分布与Fe和Mn的不相同,说明界面处出现了岛状生长.在退火的NiFe/[Ni/Mn]<,5>多层膜中发现了交换偏置现象,表明退火后Ni/Mn多层膜内出现了θ相的NiMn.小角DAFS结果显示在Ni/Mn界面存在着严重的互扩散.退火之前,多层膜内的Ni层已经被Ni<,2>Mn所取代.在240℃退火1小时后,界面处的互扩散变得更严重,Ni和Mn完全扩散到整个多层膜内.X射线漫散射结果表明在Ni/Mn界面处没有成分扩散,而是存在着岛状生长.根据Reuss,Voigt和Hill模型计算了FeMn和Ni<,80>Fe<,20>薄膜在不同织构下的X射线弹性系数,并用计算的X射线弹性系数拟合了应变随sin<2>ψ的变化曲线,得出了FeMn/Ni<,80>Fe<,20>多层膜样品内的残余应力.实验测得的应变随sin<2>ψ的变化曲线并非一条直线,其原因是残余应力在样品内存在梯度分布,考虑到应力的梯度分布之后,拟合结果与实验结果符合的很好.根据C-B模型,计算了双自旋阀中GMR对铁磁层和非磁层厚度的依赖关系,以及单自旋阀中铁磁插层对GMR得影响.结果表明,在双自旋阀中,当中间铁磁层厚度很薄时,界面自旋相关散射变弱,变弱的原因可能是针孔效应,对针孔效应建立了一个简单模型,并计算了GMR随中间铁磁层厚度的变化关系,计算结果与Egelhoff的实验结果一致.在具有插层的单自旋阀中,计算了插层的厚度和位置对GMR的影响,结果表明在Co和NiFe中存在自旋相关散射,但是其对GMR的贡献不如界面自旋相关散射大.