该文采用脉冲激光沉积镀膜和溶胶-凝胶法分别制备了Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>薄膜和粉末样品,探索了获得居里点在室温以上的透明铁磁性半导体的制备方法和工艺条件;并利用x射线衍射、振动样品磁强计、超导量子干涉磁强计、四端法测量电阻率等详细研究了薄膜样品和粉末样品的微结构、磁性以及电学性质.对薄膜样品,主要工作如下:(1)采用脉冲激光沉积(PLD)技术,通过改变沉积频率和沉积过程中的氧气压,成功制备了Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>薄膜样品.(2)测试结果表明,Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>薄膜中Co:Ti的化学成份比例关系与预期实验数据相符,约为6％at.(3)XRD实验结果表明,Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>薄膜样品具有锐钛矿结构,并且存在织构现象.(4)SQUID实验结果表明,Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>薄膜样品在室温下仍然具有铁磁性.矫顽力、剩磁比、饱和磁化强度等磁学参数与样品生长时的氧气压和脉冲激光的频率有关.对粉末样品:(1)采用溶胶-凝胶方法成功制备了Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>粉末样品,利用XRD和VSM对其进行了结构和磁性的基本研究;研究了烧结温度和时间对晶体结构和磁性的影响.(2)原子吸收光谱实验结果表明,Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>粉末样品中的Co:Ti化学成份比例基本符合预期实验数据,约为3％at,在理论范围以内.(3)XRD研究结果表明,Co<,x>Ti<,1-x>O<,2>粉末样品的晶体结构对烧结温度具有明显的依赖关系:在较低的温度下烧结,主要出现锐钛矿结构,而在较高的温度下主要得到金红石结构.而在相同的烧结温度下,烧结时间对晶粒尺寸和结构有很大的影响.烧结时间越长晶粒尺寸越大.晶格畸变与不同温度下烧结的时间有关.