随着通信行业与电子产业的快速发展,使得人们对微波材料的关注度越来越高,如何准确快速地测量微波材料的电参数已成为目前研究者们较关心的问题。介电常数与介质损耗角正切是微波材料的重要电参数,目前,人们已经研究出适用于不同介电常数的微波材料的不同测量方法。本文设计并实现了基于谐振法(变Q值法)数字化介电常数与介质损耗测量电路实物。该实物系统能实现对待测介质在谐振电路中产生的电压信号数据的自动采集、处理、输出一体化功能,并能够通过串口接收本地用户的操作命令。本实物硬件系统引入以基于ARM嵌入式系统技术,以基于Cortex-M3核心的STM32系列芯片作为主控核心,与数字频率合成模块(DDS)配合产生高频正弦信号,配合信号处理模块实现对高频信号的滤波与功率放大,以便在谐振电路中得到高Q值,数据采集、处理的功能交由数据采集模块完成,通信模块将处理完成的数据实时传给显示屏,并且通过键控模块实现用户交互功能。在软件上,设计了模块化的C语言,各个硬件模块的功能与运行流程通过Keil软件编译程序完成,实现数据采集、数据处理、屏幕显示、键值响应等功能,使得整个系统具有控制频率数字锁定、标准频率测试点设定、谐振点自动搜索、数值显示等功能。采用变Q值法测量介质的介电系数与损耗因数,采用现代化仪表技术,引入嵌入式计算机,电路系统具有操作简单,重复性好,数据直观显示等优点,为介电常数与介质损耗的测量提供了有力的保证。