随着VLSI技术的高速发展，工艺水平的不断提高，各种高性能的处理器不断涌现，不仅仅是通用处理器的性能指标按摩尔级数递增，在各种应用系统中，嵌入式处理器也得到了充分的发展。在当今信息化革命中，嵌入式处理器的作用已是不可代替，各种通讯设备、网络设备、交通工具甚至于武器系统中都能见到它的身影。然而，嵌入式处理器的不断发展也给它的功能验证工作带来了难题。随着嵌入式处理器的不断发展，整个嵌入式处理器验证工作的难度则随之不断加大，几乎占到了70％～80％的工作量和资源，而且还有上升的趋势。验证工作已经成为保证高性能嵌入式处理器性能指标的一个瓶颈所在。如何在保证效果的同时，降低验证工作的难度，减少验证在整个设计周期的比率，已经成为高性能嵌入式处理器设计所迫切需要解决的一个问题。 为了解决这个问题，引入了随机指令测试的概念。这样一来就可以大大减轻验证工程师在芯片验证时人为书写大量测试的负担，同时又可以减轻了人为因素在验证过程中的影响，达到更好的测试效果。在嵌入式处理器的验证过程中，随机指令测试起到了非常重要的作用，利用它，可以缩短处理器设计周期。 本文首先介绍了32位的高性能嵌入式处理器CK系列，接着提出了在CK520嵌入式处理器开发过程中，用于功能验证的静态随机指令测试和动态随机指令测试。首先介绍两种测试方法的基本原理和工作过程，接着也分析了它们优点和不足之处。在论文的最后，还给出了实际的测试结果。所有的数据表明，随机测试在嵌入式处理器的功能验证中能够起到非常有效的作用。