一些型号定寿延寿意义重大,电连接器作为型号上各单元之间传递电能和信号的基础机电元件,其寿命评估是型号定寿延寿的重要前提。目前,针对贮存电连接器的寿命评估主要是考察温度的影响,而尚未考虑型号库存测试时的插拔所产生的效应,不能完全反映电连接器在贮存过程中经历的实际应力状态,其评估结果难以准确地指导工程评判。本文以Y11P-1419型电连接器为对象,结合失效机理分析和加速退化试验研究,揭示贮存电连接器计入插拔与不计入插拔的效应,并结合试验数据评估计入插拔与不计入插拔的定量寿命区别,进而为更准确地评估型号上电连接器的贮存寿命提供理论支撑和实践指导。论文的主要工作如下:1.阐述了本文的研究背景与意义,总结了贮存寿命评估的国内外研究现状,以及加速寿命和加速退化试验的发展历程,根据电连接器贮存寿命研究的国内外现状,指出目前电连接器贮存寿命评估中的不足,进而提出了本文的研究目标和主要研究内容。2.根据型号上电连接器的使用情况以及型号对电连接器的功能要求,总结了型号上常用的电连接器类别及其主要特点,详细分析了Y11P-1419型电连接器随着型号贮存时的贮存剖面、贮存应力和失效模式,并从失效机理层面揭示了插拔对贮存电连接器接触性能的影响:插拔造成插拔后的阻值跳变;插拔过程刮擦磨损镀金层和氧化膜,加速后续贮存期间的氧化腐蚀。3.设计了严格的加速退化对照试验,证实了插拔后阻值出现跳变现象,通过设计补充试验,得到了插拔后接触性能恢复稳态的时间,采用非参数统计方法判别试验数据,结果表明插拔加快了电连接器的退化速度,并结合试验样品微观接触表面的SEM和EDS分析,直观地验证了计入插拔的电连接器失效机理。4.结合电连接器微观表面的电势变化和电接触理论,建立了包含微观影响因子的接触电阻数学模型,进一步计入接触件长期贮存时的蠕变和应力松弛,建立了接触电阻退化模型;采用回归分析和最小二乘法估计了模型参数,并基于试验数据得到了120℃下的电连接器加速退化轨迹,计算得到计入插拔后电连接器接触件的平均寿命减少了22.81%。5.总结了本文的主要研究内容,并对需要进一步研究的工作进行了展望。