工业计算机断层扫描成像技术(ICT)被誉为当今工业界最佳的无损检测技术,随着科技进步及制造工艺的提升,被测物体内部结构日趋精密复杂,对工业CT检测的图像分辨率也提出了更高的要求。而目前普遍使用的低能探测器分辨率不高,且数据传输带宽无法满足逐渐增大的数据量需要。针对这一实际需求,课题设计了一种低能X射线探测器的信号采集与数据传输系统方案,该系统可应用于小焦点/微焦点CT,实现对复杂精密器件的检测。　　论文对低能X射线工业CT的探测器采集传输系统方案进行了研究,分别确定了探测采集模块和数据传输模块的方案。探测采集模块使用X-CARD完成X射线信号的采样,并由AD7641实现模数转换,然后采用I2C总线上传数据;数据传输模块采用千兆以太网实现数据高速传输,传输层选用UDP用户数据报协议,数据链路层功能由FPGA数字逻辑实现,物理层功能则由专用PHY芯片完成。　　硬件方面,系统采集模块以FPGA为主控平台,采用Altera公司的EP1C3T,包括探测电路、AD转换电路;探测器X-CARD0.2-256以并行工作方式进行采样,信号经AD电路转换后,数据送达RAM缓存,再通过I2C总线传送给数据传输模块。系统传输模块主要包括FPGA配置电路、PHY芯片电路,FPGA选用CycloneIII系列的EP3C25F,PHY芯片采样Marvell公司的千兆以太网控制器88E1111;实现的功能为接收采集模块的数据,经FPGA的数字逻辑MAC层组装后,再通过PHY传输到上位机。　　数字逻辑设计方面,采用自顶向下的设计思想,使用VerilogHDL语言编写程序,完成了对采集模块X-CARD与AD时序控制、RAM缓存、命令解析、数据I2C总线发送以及传输模块采样数据接收、UDP协议千兆网MAC层等部分的逻辑设计,并借助QuartusII9.1软件完成编译、综合、仿真;调试阶段通过嵌入式逻辑分析仪SignalTapII进行信号观测,有效完善了逻辑设计。　　性能测试分析方面,对系统传输速度与信号采样进行了测试,传输速度最高可达927Mbps,并且能够迅速准确地完成信号采样和传输;通过上位机软件对采样数据进行了观测与分析,结果表明性能良好,能够达到系统预期效果。