高性能发光二极管新型结构与关键技术的研究

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半导体材料作为环保、节能绿色能源的代表,以其独特的优点,广泛应用于汽车照明、装饰照明、显示、光纤通信等多个领域,就目前发展趋势来看,高效率、高亮度、高可靠性、低成本的高性能发光二极管(LED)已成为研究的热点。为研究出适用于照明和超高亮度领域的高性能发光二极管,必须解决一些结构和关键技术上的问题,特别是提取效率低问题,因为提取效率低会导致发光亮度下降、器件发热而寿命缩短、可靠性下降等问题。因此,本课题工作是在国家高新技术研究发展,国家重点基础研究发展规划资助项目的支持下进行,围绕高性能LED新型结构及其关键技术进行了深入的理论分析和实验研究,旨在提高LED的光提取效率和温度稳定性。   本论文通过介绍发光二极管的一些基本理论,包括发光二极管工作原理、发光效率、AlGaInP系和GaN基发光材料特征,LED发光机理,从器件结构和制作关键工艺方面着手来研究提高LED性能的方法;通过对LED重要的电学及光学特征参数分析介绍,为分析和评判LED性能提供理论依据。主要工作包括AlGaInP红光共振腔结构LED(RCLED)和GaN基蓝光垂直结构LED两方面的研究内容,主要研究内容如下:   首先,主要介绍了AlGaInP红光RCLED和GaN基蓝光LED两方面的一些基本理论,主要设计原则,设计要点和优化方向。一方面,研究了AlGaInP红光RCLED共振腔、分布式布拉格反射镜(DBR)等基本理论,给出了RCLED设计原则和RCLED设计要点。为提高AlGaInP红光RCLED的性能,重点分析了RCLED中DBR材料的选取和结构优化的方向;另一方面,对GaN基蓝光LED电流拥挤效应、衬底材料选择进行了分析介绍,为解决蓝宝石衬底对GaN基蓝光LED光电性能带来的不良影响,提出了可行性较高的解决方案。   其次,在AlGaInP红光RCLED结构中,选取适当的DBR材料和优化的多层膜结构,可以在保证谐振的前提下,提高发光效率,增加响应速率、提高温度稳定性、腔稳定性和进行更好的波长选择性,达到提高RCLED的性能目的。为此,本文提出了SiO2/Si3N4多层介质膜结构AlGaInP红光RCLED。为获得高反射率、低应力的SiO2/Si3N4多层介质膜,采用了PECVD高低频交替生长法进行生长,并通过实验得出了干、湿法并用的腐蚀方法。采用传输矩阵法理论分析了其反射谱,获得了使PL谱辐射增强的最优SiO2/Si3N4多层介质膜结构,利用最优结构制各了器件,在20mA注入电流下,与普通结构相比,使裸芯的光功率和光效分别提高了27.7%和26.8%,且光功率衰减缓慢,没有明显的下降趋势,体现了良好的温度稳定性。   再次,对于正面出光的AlGaInP红光RCLED,为实现上、下DBR镜反射率的最佳匹配,使更多的光从出射窗口射出,获得最佳效率。在n-型DBR对数为固定值时,对传统P-型DBR对数进行了优化,并分析了不同P-型DBR对数对器件性能的影响。通过理论分析对比n-型AlGaAs/AlAs DBRs对数都为34,p-型AlGaInP/AlInP DBRs对数分别为15,10,5的三种结构,发现通过选择最优化的DBR对数,即适当的反射率和抑制带宽,可以在实现高的电流注入、低的吸收损耗、最小化的DBR深度深度的同时,获得好的效率。通过理论分析对比,我们选择两组不同P.型对数的样品制备成225μm×225μm裸芯,进行了测试分析,实验结果证明,选择最优化DBR对数的器件,在光输出功率、光亮度、光效、光功率饱和特性、温度稳定性方面的优势得到了充分体现,并获得1.66V低开启电压和5.7Ω电阻,在20mA的驱动电流下,光输出功率和辐射效率分别提高了13%和45%。   最后,为解决因蓝宝石衬底给器件带来的上下台面结构造成的工艺复杂,电流扩展不好,器件散热困难等问题,更好的提高GaN基蓝光LED的电学特性和功率转换效率,对GaN基蓝光垂直结构LED进行了相关研究。利用激光剥离技术和芯片键合技术设计了GaN基蓝光垂直结构LED,对为制备大面积、低电阻、高反射率的p型低欧姆接触金属层,对其关键技术如反光镜技术、芯片键合技术等进行了研究。并对金属反光镜、ITO反光镜、全方位反光镜(ODR)进行了制作及反射率分析,制备出了具有高反射率全方位反射镜的GaN基垂直结构LED,通过分析比较光功率、光强、光通量、电压、光效等参数,结果说明ODR-LED比普通金属反光镜LED在光强和光输出功率等方面性能有很大提高,20mA注入电流下,光强和光功率分别提高了28.25%和41.1%。在变电流下,随着电流的增加,两样品的光功率一直增加,并成上升趋势,直到100mA都没出现光功率饱和现象,这说明了垂直结构器件具有很好的温度稳定性。
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