ZnO掺杂ITO薄膜光电性能及其与p-GaN欧姆接触性能研究

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随着光电产业的蓬勃发展和光电产品的广泛应用,透明导电薄膜的研究受到学术界和业界越来越多的重视,透明导电薄膜的透光性能和导电性能已成为研究热点和重点,这对光电产业的发展进步具有重要的作用和意义。  本文研究了ZnO掺杂的铟锡氧化物(ITO)薄膜(ZnO-ITO)的光学性能和电学性能,比较分析了ZnO-ITO薄膜和非掺杂ITO薄膜对PEDOT:PSS溶液的抗腐蚀能力;同时,使用上述薄膜制备氮化镓基发光二极管(GaN-basedLED)的透明导电层,并研究了ZnO-ITO透明导电薄膜与p-GaN的欧姆接触性能。  本文采用电子束蒸镀方法在K8玻璃衬底上沉积ZnO-ITO与非掺杂ITO薄膜,研究不同退火温度对ZnO-ITO薄膜的微观结构的影响,对比分析了在不同退火温度条件下,ZnO-ITO和非掺杂ITO薄膜的光电性能。结果发现:ZnO-ITO薄膜具有较大的晶粒尺寸,随着退火温度的上升,晶体结构得到改善,表面粗糙度减小,薄膜的光电性能显著提高。ZnO-ITO薄膜经过500℃退火后得到最佳的综合性能,其表面均方根粗糙度为32.52nm,电阻率为1.43×10-4Ω·cm,对450nm波长的光,透射率可达98.37%。  对比ZnO-ITO和非掺杂ITO薄膜抗PEDOT:PSS腐蚀能力发现,薄膜经过PEDOT:PSS溶液3小时的腐蚀,测厚结果显示非掺杂ITO的腐蚀程度是ZnO-ITO薄膜的6-7倍,ZnO掺杂ITO增强了ITO薄膜的抗腐蚀能力。  在最佳蒸镀条件下,做出传输线模型器件后,研究了ZnO-ITO薄膜与p-GaN的欧姆接触,并对相关欧姆接触物理机制进行了分析。进一步以ZnO-ITO为透明导电层做出LED芯片,研究了LED的光学和电学性能。测试结果表明,ZnO-ITO薄膜与p-GaN形成良好的欧姆接触,接触电阻率4.37×10-5Ω.cm-2,制作的蓝光LED器件,在注入电流为20mA时,开启电压为3.21V,与非掺杂的ITO蓝光LED器件比较发现,输出功率增加了49%。
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