该论文应用wagner直流极化法和阻抗谱法研究感光乳剂微晶体的电性能.详细阐明了直流极化法和阻抗谱法的基本原理及测试技术,着重研究了未经曝光的模型乳剂在不同的条件下(诸如温度、掺杂、明胶、防灰雾剂等因素)其电子电导率和空穴电导率的变化规律,初步探讨了乳剂感光性能与这些参数之间的内在关系,并得出结论:浅电子陷阱掺杂剂[Fe(CN)<,6>]<4->掺杂于乳剂微晶体中不同部位会使其电子电导率不同程度地增加.电子电导率增加的幅度在一定程度上反映了乳剂微晶体内的自由电子的行踪,例如参与灰雾中心的形成.同时也发现,在掺杂了浅电子陷阱掺杂剂的乳剂中,空穴电导率会下降,尤其是掺杂部位靠近晶体表面的乳剂,其空穴电导率急剧下降.这个现象从一个侧面证明了空穴去向的多重性:既可以与自由电子复合,又可以与填隙银离子反应,还能够被明胶吸收.温度对乳剂微晶体的电子电导率和空穴电导率的影响,是一个重要的因素.对于掺杂量较高的乳剂微晶体在比较高的温度下其空穴电导率明显上升,这表明在高温条件下,晶格容易出现Frenkel缺陷.其原因在于热膨胀导致晶格出现松动,使部分填隙银离子游离出来,从而产生一些空位,使测试值偏高.因此,应用Wagner直流极化法测试乳剂微晶体的时候,不仅要选择在适当的极化电压,而且也要选择适当的温度条件.加入防灰雾剂能使乳剂的电子电导率增大,从分子层面上揭示了这类稳定剂对自由电子与填隙银离子结合的阻滞作用.采用阻抗谱法测试并推算出乳剂微晶体的活化能、离子电导率.