红外光学系统的杂散辐射是指到达探测器靶面非目标辐射能。杂散辐射的存在会降低系统的信噪比，严重时甚至较弱的目标信号完全湮没在杂散辐射引起的噪声中，而使系统探测不到目标，不仅影响系统的探测能力也影响了系统的定量测量精度。随着大口径、长焦距红外系统的应用，以及探测器灵敏度的大幅度提高，杂散辐射已经成为影响红外光学系统成像与测量的重要因素。　　地基红外测量系统主要用于空间飞行目标的轨道测量和目标特性测量，由于目标表面温度低，且距离红外测量系统远，其到达探测器靶面的辐射能量很小。而室温下红外测量系统自身热辐射可能比目标辐射在探测器靶面的辐射照度大几个数量级，因此需要定量分析系统自身杂散辐射的能量大小，并尽量抑制杂散辐射，以提升系统的探测能力与定量测量精度。　　本文的研究内容是:具体结合典型地基红外成像测量系统，通过研究分析其自身杂散辐射的来源和传输过程，建立了这类红外测量系统较为通用的分析自身杂散辐射的理论计算模型。然后，定量分析了在不同的工作环境温度和表面参数条件下，光学元件和机械结构表面产生的杂散辐射在探测器靶面的辐射响应，确定杂散辐射对红外测量系统探测能力与定量测量的影响，并开展实验进行了理论分析计算方法的基本验证。最后，利用该理论分析方法，针对大口径地基红外测量系统进行了其自身杂散辐射的分析计算，给出了有效抑制自身杂散辐射的措施建议，支撑了该大口径地基红外测量系统探测能力的提升。