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任意波形发生器作为常用信号源，可以产生测试所需要的常规波形和任意波形，在现代测试系统有着广泛的应用。目前其波形合成的核心技术是直接数字合成技术，其重要指标是采样频率和存储深度。高采样频率可以保证高输出带宽，深存储可以重现波形细节、实现复杂波形。随着被测对象工作频率、复杂性的提高，对任意波形发生器的输出波形的复杂性和带宽提出更高的要求。传统的SRAM由于访问速度低、存储容量小，作为波形存储器具有很大的局限性，而DDR2SDRAM作为一种新型的存储器，其访问速度快、存储容量大，适合用于高速深存储的研究和应用。针对上述提出的问题，本文主要研究基于DDR2SDRAM的任意波形发生模块，设计工作主要包括：波形合成硬件电路、FPGA逻辑。论文主要工作内容如下：1.高速深存储的波形合成电路设计。根据DDR2SDRAM读写特点，分析它在两种不同波形合成结构（DDFS和DDWS）中应用的可行性后，选择DDWS的方式合成任意波形。根据模块的指标要求，从功能集成化出发，采用现场可编程逻辑器件（FPGA）完成模块的主要功能设计，确立了以“FPGA+DDR2SDRAM+高速DAC”的架构实现波形合成电路，完成硬件平台搭建。2.FPGA逻辑设计。主要完成DDR2SDRAM控制器设计，并对系统出现的跨时钟域数据进行数据同步处理，同时完成了地址发生器、译码器、DAC控制等模块设计。通过FPGA逻辑控制，实现波形数据正确读取，波形输出。3.测试与验证。针对模块指标设计了相应的测试方法，选取相关测试设备构建测试平台，对性能指标进行验证，并对测试结果进行了分析，验证了设计的合理性。测试结果表明，本文研究的基于DDR2SDRAM的任意波形发生模块可以实现的最高采样频率达1GS/s，存储深度为128M点。