X光透镜性能研究及其在实验室EXAFS谱仪中的应用

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整体X光透镜发展至今,已经达到了较成熟阶段.现在正朝着高能方向发展.对整体会聚透镜来说,如何减小焦斑的直径和提高焦斑处的功率密度,是以后发展的重点.对于整体平行束透镜,如何拉制线焦斑的整体平行束透镜和如何减少现有圆形焦斑的整体平行束透镜的角散以及如何提高它的准平行光束的功率密度是以后发展的方向.为了顺利地开展上面提到的这些提高透镜性能的工作,必须有一套完整而系统的测量方法来测定现有透镜的性能.针对整体会聚透镜,我们结合一些具体工作,对如何准确测量会聚透镜的出口端焦距(焦斑至透镜出口的距离)和焦斑大小提出了一种新的独特可行的办法:横向扫描法.并且将该法和原有办法进行了比较:该法可使测量会聚透镜性能参数的时间减小到原有方法的一半.针对整体平行束透镜,在粉末衍射仪的基础上,根据波长色散原理提出了:如何测定整体平行束透镜在各能量点的传输效率的新方法,该方法填补了如何准确测量整体平行束透镜在各能量点传输效率的空白.同时在大量实验研究的基础上,提出了如何更好地描述整体平行束透镜的角散问题的好建议,为更好地测量和描述整体平行束透镜的角散打下了很好的实验基础.
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