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缺陷在液晶中广泛存在。拓扑缺陷来源于连续对称性的破坏。凝聚态中的缺陷分为两种：位错和向错。本文基于Landau-de Gennes理论，对不同边界条件下引起的缺陷进行了分析与讨论。本文利用松弛方法，研究了不同边界引起的缺陷结构。文中设置了三种边界：平面边界、单台阶边界和双台阶边界。通过数值计算分别得出平衡态时不同边界下系统的二阶序参数张量，三个本征值以及双轴性参数。结果表明向错中心存在本征值交换。向错中心呈现单轴态，并被一强双轴性区域包围。不均匀表面使向错中心上移。在双台阶边界下，两