宇宙空间环境复杂,以重离子、α粒子以及高能质子为主要成分且来源不同的各种宇宙射线可引起航天电子器件中的集成电路产生不同的辐射效应,严重影响集成电路工作的稳定性和寿命。其中以单粒子瞬态和单粒子翻转为主要代表的单粒子事件,是导致集成电路产生软错误的主要来源。目前针对单粒子瞬态效应和单粒子翻转效应的三模冗余以及EDAC容错加固技术被广泛应用于集成电路的抗辐照加固设计中。验证技术作为保障芯片功能满足设计需求的必要技术方法,在目前芯片设计周期中所占的比重高达70%以上。对于抗辐照加固的宇航级芯片,如何进行有效的仿真验证,确保抗辐照加固设计功能的有效性,是目前宇航级芯片设计开发的重点研究方向之一。本文针对一款在轨光学遥感专用处理芯片,研究其抗辐照电路的验证方法。首先对于宇宙空间中的辐照环境进行了全面的介绍,重点对于单粒子瞬态效应和单粒子翻转效应引起的电路故障进行了研究。其次介绍了验证技术及其技术分类,其中对于抗辐照电路的验证方法进行了深入的学习和研究。基于以上理论研究和技术积累,设计实现了灵活且高效的仿真验证平台,实现了对于在轨光学遥感专用处理芯片的抗辐照电路验证。在芯片的抗辐照验证中,通过模拟单粒子瞬态效应和单粒子翻转效应实现仿真过程中的故障注入,同时通过检验器对芯片输出响应的比对可以达到判断仿真是否正确的目的。整个验证环境的自动化水平较高,且验证平台具有良好的继承性和可重用性。本文在不同测试场景下,进行故障注入仿真。最终由仿真结果得出,在轨光学遥感专用处理芯片的抗辐照加固对于模拟产生的故障具有一定的防护效果,可以有效地降低芯片运行过程中受到空间辐射产生错误的概率,整系统防护机制符合预期目标。