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本论文利用光学传输矩阵法研究了不同结构的一维缺陷态光子晶体，以及通过光子晶体结构参数控制缺陷模位置、数目和带宽等的方法。深入研究了光子晶体结构参数对缺陷模带宽、品质因子这两个器件重要性能参数的影响。
同时，提出一种基于透射特性的巧妙计算光子晶体等效反射距离和反射位相的方法。深入分析了缺陷模的等效反射距离δ的发生位置和物理机制。
此外，提出一种新型的光子晶体双色谐振腔，总结了设计特定双波长的光子晶体双色谐振腔的步骤、关键参数及优化方法，并分析其物理原理。
最后讨论一维光子晶体工艺制作中的误差控制问题，研究获得完整光子禁带的膜层折射率误差和膜层光学厚度误差允许范围，得到优化结构以降低工艺难度，为实际工艺制作提供理论指导。