随着超大规模集成电路技术的发展，电路的密度越来越高，传统的基于探针测试方法在超大规模集成电路测试中已很难实现，边界扫描技术采用虚拟探针的的方法，以其独特的测试方法为超大规模集成电路提供了一种有效的测试解决方案，不仅使超大规模集成电路的测试成为可行，而且缩短了测试时间，降低了测试成本。然而，边界扫描测试的前提是电路中的集成电路应该是具有边界扫描功能的芯片，这与电路的实际情况不完全一致，即在今后相当长的时间内，由边界扫描器件和非边界扫描器件组成的非完全边界扫描电路将仍大量存在。研究非完全边界扫描电路板的测试问题，对于解决超大规模集成电路的测试问题更有实际意义。论文针对非完全边界扫描电路测试存在的几个难点问题进行研究，其主要研究工作和创新如下：1、对边界扫描测试技术和存在的技术难点进行了讨论，对非完全边界扫描电路的测试原理和技术问题进行了分析和研究，总结了对非边界扫描结构进行可测性优化设计的方法以及非完全边界扫描测试的基本原理和方法。2、在分析非完全边界扫描测试点优化现有方法的优点与局限性的基础上，充分考虑非完全边界扫描电路的实际，提出了基于故障模式和危害度的测试点优化方法，并通过数学推导证明了该方法比基于故障危害度的方法适用范围更为广泛，最后给出了该方法求解的基本思路。3、分析了现有测试向量生成算法的优缺点，提出了性能更优的等权值标识算法，该算法通过移位算法生成附加向量，对原等权值测试向量进行标识，进一步提高了抗混淆能力，生成的测试向量集综合性能更优。