在钢带、布匹、纸张、胶卷、玻璃、塑料薄膜等平板产品的大批量生产过程中，非接触的无损表面检测十分重要。光学测量是典型的非接触检测方法。其中，CCD(电荷耦合器件)测量是主要的表面测量方法之一。 在应用CCD进行快速检测时，数据的处理存在着两个主要的问题：一是处理速度慢，二是在弧形背景中判别缺陷。 在本文中，作者引入了模拟处理方法、视频信号微分和缺陷脉冲计数的技术。利用模拟电路速度快的特点，解决了图像处理慢的问题；利用视频信号微分技术，实现了抑制弧形背景，凸显缺陷毛刺；利用缺陷脉冲计数技术，把缺陷信号转变成为脉冲序列，通过对脉冲的计数，实现了缺陷的判别和报警；在使用模拟方法的同时，又结合了原有的数字处理方法，利用其保存信息完备，便于处理的特点，选择性处理图像，构成了模拟、数字双通道数据处理系统，兼有二者各自的优点。 本文中，作者详细描述了模拟通道处理的原理、检测系统各部分的硬件要求和相关硬件(缺陷检测模块、直流光源、DAC卡)的研制开发、配套检测软件的原理和开发研制以及最后实现的平板缺陷检测系统。 对已经完成的项目，作者又进一步测试了此平板检测系统，给出了主要性能指标，其中横向绝对分辨率接近0.1mm，扫描速率9k行／秒，并证明此系统能够实现平板表面细微缺陷的快速检测，验证了设计思想的正确性。通过对检测结果的分析，指出了该系统中存在照明光源及软件等方面的一些不足以及提升性能的具体方向和思路。