NAND Flash由于集成度高、功耗低、容量大、单位容量成本低、体积小等优点，广泛应用于移动设备，如MP3/相机存储卡、智能手机、平板电脑中，并随固态硬盘(SSD)对大容量和小体积要求的不断增加而成为研究热点。目前国际上主流的测试方案通常以实现测试算法为主，其中测试算法仍大多是以存储器经典测试算法MARCH算法为基础改进而来实现功能测试，并没有考虑结合NAND Flash本身的电路特性或者有针对性的增加小部分的测试电路来简化算法。而恰恰由于其大容量，使得对NAND Flash的测试成本相对较高，即使是复杂度为O(n)的测试算法也将消耗极大的测试时间。另一方面，昂贵的自动测试仪和老化测试设备也极大的增加了测试成本。因此，为了降低测试成本和提高测试效率，必须寻求简便而有效的片上测试方案。　　论文完成了NAND Flash的自测试方案设计与分析，包括:　　1.分析了NAND Flash阵列工作原理及基本故障类型;　　2.在HSPICE中建立合理的电路模型，总结NAND Flash故障的电路特性;　　3.提出一种基于振荡环的检测电流测试方案，分析检测有效性;　　4.提出一种振荡环平行测试应用，提高测试效率。　　根据仿真和分析结果可以看出，通过本文所述方法，能获得相应的故障覆盖率，有效地节省了测试时间和测试成本。