因为放射性测量具有统计涨落的特性,所以测量装置得到的原始谱数据会出现不规则的毛刺信号。即使输入的核脉冲信号平滑度较好,测量得到的脉冲幅度谱也不能克服这一不足。这些毛刺信号会对整个系统的计算造成影响,形成系统噪声。为了克服系统噪声,提高精度,必须在谱数据上再进行平滑处理。对于核谱数据的平滑处理,早期一般采用多点平滑滤波。近年来,FFT变换、卡尔曼变换和小波变换等新型处理方法的出现将核谱数据的平滑滤波技术推向一个崭新的发展阶段。但是,由于上述三种以数学计算为基础的平滑滤波方法需要借助于其他工具软件(如Mat lab)来进行分析,而且还受到现有数学描述、测量手段和处理设备的限制,使得它们对核谱数据平滑处理时,存在着理论证明繁琐、计算方法复杂和软件工作量繁重等固有的缺陷。鉴于此,论文提出了一种基于数字Sallen-Key滤波器(以下简称S-K滤波器)的核谱数据平滑处理的方法。早在1955年,基于分立元件设计的S-K滤波器首次由R.P.Sallen和E.L.Key提出,并成功实现了对脉冲信号的高斯成形。S-K滤波器能够广泛地适用于脉冲信号的滤波成形,并且能够在较低级数下得到高斯波形和良好的品质参数。但是采用分立元件设计的S-K滤波器,在成形参数调整和系统稳定性等方面存在着诸多不足。为此,对S-K滤波器进行数字化处理是势在必行的。对数字低通S-K电路进行数值分析,首先,运用KCL (Kirchhoff Current Law)定律,建立电压传递公式,并得到一个y=f(x)的数学函数。然后,通过微分数值法解算该函数,建立高斯成形模型。最后,通过标准负指数信号和实际核脉冲信号进行不同参数条件的数字高斯成形仿真,软件仿真与实际电路的成形结果是一致的。这也验证了论文提出的高斯成形模型在理论是正确的。实际样品分析测试中,使用SiSCaTiFe的混合样作为测量对象,使用能量色散X荧光分析仪对多种样品进行测量。首先,将得到的原始谱数据(没有进行过数据处理)的谱线,使用5点平滑滤波、11点平滑滤波、FFT滤波、小波滤波和数字S-K滤波对谱线的平滑度进行了研究,并重点分析1000-2030道没有峰部分的平滑度。然后,采用四次多项式拟合曲线,得到拟合曲线的R2,用其表征谱数据的平滑度。最后,将S-K滤波器和其他滤波方法在能量分辨率、计算工作量、相关性和平滑度等方面进行了详细地对比分析。此外,采用不同类型探测器,针对如水泥、铁矿、铜精矿等其他多种样品,论文也分别对不同谱线平滑方法进行了进一步的测试。综合各种测试分析结果,在软件算法实现、滤波参数调节、计算处理工作量和谱线平滑度等方面的谱线处理性能参数,数字S-K滤波器都具有明显的优势。