论文部分内容阅读
随着集成电路复杂度的不断提升,如何进行快速高效的功能验证已成为现代微处理器设计过程中的一大挑战。随机功能验证是微处理器验证领域的重要技术之一,其意义在于:一方面,自动化生成测试激励的方法能够节省大量的时间和人力成本;另一方面,由于其采用了随机生成测试激励的策略,因此验证的覆盖范围十分广泛,有利于查找那些被验证者忽略的功能点。 本文从随机功能验证平台的设计目标和实现方式出发,详细分析了随机功能验证平台的设计需求,并以北京大学微处理器研发中心正在进行的UniCore-3处理器研发项目为平台,主要完成了UniCore-3随机功能验证平台的设计工作。论文的主要工作包括: 1.调研主流处理器随机功能验证平台的功能和特点,确定了目前流行的随机功能验证平台的主要特征,包括主要功能、结构框架、测试激励生成策略、运行环境和检测比对机制等。 2.确立了以“高覆盖率、耗时短”为目标的设计方向,完成了一款面向UniCore-3的随机功能验证系统。设计内容包括随机指令库、基于覆盖率驱动的随机测试激励生成策略、基于模拟和仿真的运行环境以及自动检查对比机制等。 3.通过实际运行情况证明了该随机功能验证平台的有效性,并从覆盖率和耗时这两个方面优化了UniCore-3随机功能验证平台的性能。 综上所述,UniCore-3随机功能验证平台面向UniCore-3微处理器而设计,实现了当今主流随机验证平台的功能和框架。该平台在提升功能验证覆盖率和节省时间方面效果显著,是UniCore-3的功能验证系统中的重要组成部分。