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与同成分铌酸锂(LiNbO3, LN)晶体相比,近化学计量比NS(Near-stoichiometric, NS) LN晶体主要表现出了两方面的优势:一是NS LN晶体在实现抗光折变效应时,只需掺少量(>0.8mol%)浓度的MgO即可,而在同成分LN晶体中掺入MgO浓度阈值需达到4.9mol%以上才可以抑制光折变效应,高掺MgO浓度会严重影响LN晶体的光学质量;另一方面,NS LN晶体制备用于波长转换的周期极化性铌酸锂晶体(Periodically Poled LN,PPLN)波导所需铁电畴反转电压远低于同成分晶体。使用富锂气相输运平衡(Vapor Transport Equilibration, VTE)处理可以使LN晶体的组份达到NS配比。本课题中,以同成分LN晶体为基底,采用钛扩散和富锂VTE处理同时进行的方法制备出了不同Ti膜厚度的NS Ti:LN平面光波导,并使用棱镜耦合技术对波导深度方向上的折射率分布进行表征。可以发现,在NS平面波导表面Ti4+浓度CTi(mol%)与折射率变化△ne之间是近似线性的关系△ne=2.38×103CTi。由于条形波导的导波区域相对较窄、折射率差异也很小,使用棱镜耦合技术是很难直接测量出其折射率分布的。因此,本文采用近场方法建立了条形波导的折射率模型。基于近场方法得到的结果,研究了无源和有源NS条形波导的模场分布、Ti4+浓度的深度分布以及波导的折射率分布等特征参数。结果表明,与同成分Ti:LN条形波导一样,NS条形波导中Ti4+致折射率的变化在宽度方向也符合两个误差函数和的形式,在深度方向上同样符合高斯函数分布,以此建立波导的折射率模型,并进一步采用变分方法来计算模场尺寸。计算出的模场尺寸与实验测得的模场尺寸是一致符合的,所以很好地验证了所建立折射率模型的正确性。此外,分析了条形波导表面Ti4+浓度分布CTi(mol%)与折射率分布△ne之间的关系,可以看出,两者的特征分布参数是相似的,且存在线性关系△ne=2.0×103CTi。