磁光记录原理是利用热磁效应写入,克尔效应读出信息。以磁光记录材料为记录介质的光盘具有容量大、非挥发、可靠性高、寿命长等优点。随着磁光材料理论、磁光材料制备方法研究的发展,进一步研究磁光记录介质性能的测试方法具有重要的意义。本论文的研究工作是:通过理论分析,得出一种新的磁光克尔效应检测方法;研制出磁光记录介质特性的检测系统;研制工作中,在克尔角信号检测电路、光路及整个测试系统误差分析方面做了大量的工作。应用磁光效应的唯象理论,得出克尔角、反射率和经过偏振分光镜的两路线性光光强的简单的数学关系,从而用模拟电路即可实现克尔角、反射率测量。磁光特性测试系统信号检测电路由信号采集、处理、显示与输出及电路电源等部分组成。在硬件电路上采用了光电转换、差动放大以及各种滤波技术,解决了微弱信号检测问题,并有效地抑制各种噪声;在光路设计上,通过设计专用的反射镜、支架并采用合理校准步骤,确保光路准确稳定地工作。另外,对测试系统的噪声进行了分析和计算,通过误差分析确定了设备的静态特性。研制成功的测试设备已应用于测量商用磁光盘、TbFeCo系磁光薄膜、Nd(Tb,Dy)Co系磁光薄膜并取得很好的测试结果。仪器的测试范围和精度可以满足科学研究和教学实验的要求。