随着现代无线通信事业的发展,移动通信、雷达、制导武器和电子对抗等系统对频率合成器提出了越来越高的要求。低相位噪声、高纯频谱和高速捷变的频率合成器成为频率合成技术发展的主要趋势。锁相介质振荡器(PLDRO)由于其优异的噪声性能、频谱纯度和稳定度广泛应用于频率合成和微波振荡源中,特别是在一些特定的领域,如空间探测、测量仪器有着其他的频率合成方式无法比拟的优势。在这样的背景下,本课题对X波段的低相位噪声PLDRO的理论和工程实现进行了研究。本课题是预研项目,要求采用取样锁相的方式来实现。目前,大多数生产的PLDRO多是依靠工程人员的实践经验来实现的,由于缺乏理论上的深度分析和指导,设计起来困难不小。由于窄脉冲形成技术还不成熟,从而限制了取样鉴相器的上限工作频率。随着窄脉冲形成技术的发展,取样器上限工作频率也越来越高,能够满足对高频段信号的取样要求。因此作者采用直接对DRO取样的方式来实现锁相。本课题存在以下难点:1.低相噪DRO的设计与调试;2.取样鉴相电路以及其外围电路的设计;3.取样锁相环路的设计与调试。本文结合上述设计难点首先介绍了振荡器的工作原理、分类和噪声。接下来详细深入分析介质谐振压控振荡器的原理,比较了介质谐振压控振荡器各种结构形式的特点。紧接着对取样鉴相的原理,取样鉴相器的组成以及性能进行了比较详细的论述。最后详细叙述了本课题中DRO和取样鉴相电路的设计、仿真和调试,对测试结果进行了细致的分析并给出了结论。最后对结果和设计中不足之处提出改进措施。