介质谐振器法测量超导微波表面电阻

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高温超导薄膜的微波表面电阻是其重要的电磁学参数,对它的测量有助于作者对未来超导器件的性能预先作出较为准确的评估,因而是十分必要的.该文在综合考虑了各种测量方法的优劣后,结合自身的测量需求与现有的实验条件,提出了利用介质谐振器TE<,011>工作模式精确测量超导薄膜微波表面电阻的方法;在理论分析的基础上,成功设计并制作了一种高Q值介质谐振器测量装置,对铜及YBCO高温超导薄膜样品进行了测试,取得了较为满意 的结果.在测试中其表现出了相当高的灵敏度;同时具有不损坏被测薄膜,可重复性好,安装调试简单方便的优点.可用于测量尺寸不小于Φ10mm的高温超导薄膜.
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