论文部分内容阅读
利用在BESⅢ上采集的4.481 × 108个Ψ(3686)事例的数据样本,对Ψ(3686)→π+π-J/Ψ,J/Ψ→l1+l1-l2+l2-(l1,l2=e,μ)衰变过程进行分析,包括e+e-e+e-,e+e-μ+μ-和μ+μ-μ+μ-。我们首次观测到了J/Ψ→e+e-e+e-和J/Ψ→e+e-μ+μ-衰变过程,并且测量出它们的分支比分别为(5.17±0.39±0.35)× 10-5和(3.00±0.27±0.20)× 10-5。测量出这两个过程的CP不对称幅值分别为(0.098±0.070±0.077)和(0.086 土0.093±0.060)。没有观测到J/Ψ→μ+μ-μ+μ-过程的显著信号,在90%的置信度下确定了其分支比上限为2.3 × 10-6。利用Ψ(3686)单举MC样本,通过Ψ(3686)→π+π-J/Ψ过程中的两个带相反电荷的低动量π介子来标记的J/Ψ介子,开发了J/Ψ衰变分支比的绝对测量方法。该方法利用J/Ψ→γη进行检验,得到与输入分支比相一致的输出分支比,验证了该方法的有效性。