玻璃绝缘子是电子元器件的重要组成部分。它在生产和封接过程中会出现气泡等缺陷，这些缺陷严重影响电子器件的质量，因此需要将含有缺陷的玻璃绝缘子剔除。 X射线无损检测技术可以直观检测出被检测物体内部的各种缺陷，本研究使用x射线数字成像技术对玻璃绝缘子进行无损检测，并使用图像处理技术对获取的图像进行增强处理。得到较好的实验结果。 本文分别使用基于像增强器的实时成像系统、基于CCD耦合实时成像系统和基于探测器扫描数字成像系统来实现X射线数字成像。得到以下结论： 1、X射线无损检测技术可以用于检测玻璃绝缘子的内部缺陷，并实现实时显示。 2、通过对比三种成像系统，得出基于探测器的检测可以得到最好的检测效果，能清晰直观地看到缺陷处X光子的计数要远远高于其他部位。基于CCD耦合实时成像系统的成像时间可以小于1秒，满足实时成像的要求，数字图像的分辨率也能达到要求。在经图像增强处理后，能明显分辨出玻璃绝缘子内部的缺陷。在基于X射线增强器的成像系统中，需要将像增强器生成的可见光图像数字化，这个过程中会引入干扰数字图像质量的因素，严重降低图像的质量。本实验条件下并未观察到玻璃绝缘子内部的缺陷。 在北京同步辐射中心使用同步辐射光源来模拟单色光实现数字成像。准单色X射线的成像质量要明显优于普通X射线管发射的“白色”X射线。 本文借助于Matlab的图像处理工具箱，对数字图像进行增强处理。使用降噪滤波和灰度均衡技术，显著提高了图像质量，使图像灰度值更加均衡。使用伪彩色变换技术，将采集到的灰度图转变为彩色图像，使得图像更直观，缺陷更容易识别。使用数字减影技术消除图像中的背底。通过分析图像的特点，在减影处理前，先对图像灰度进行校正，得到了理想的结果。