安检设备目前已发展成熟,被广泛应用于机场、铁路、码头、公路等重要交通场所,邮政、大型会议、特殊部门等需要安全检查的场所。它给我们的生活提供了更多的安全保障。传统x射线安检仪采用x射线透射物体成像技术,对获取的原始图像数据进行数字化图像处理,并由物质分类实验建立的分类区域设定分类阈值,界定有机物、无机物、混合物,进一步分辨出危险品。这种设备成像技术先进,能对危险品进行有效的识别,但随着科技的进步,各种功能更加强大、识别能力更加精确的安检设备逐渐出现。有效原子序数和物质属性特征值R的获得,已不能满足当前安全检查的要求。因此,我们要对传统的安检仪进行进一步研究,获取更多被检物体的关键信息,以应对新技术的冲击。本文以东北大学地泰检测设备有限公司生产的DTSCAN6550为研究对象。首先对目前安检领域的各种设备和先进技术做了简要介绍；接着概述了X射线探测技术的基本原理和几种常见的X射线探测系统；下一章开始重点部分,即通过边缘检测算子提取边缘特征,并结合探测器接收原理及物体成像原理,计算被检对象的外部几何尺寸,其中计算过程采用Matlab和Mathcad来实现；然后根据实验数据计算常见物质及危险品的质量吸收系数,在几何尺寸计算的基础上,获得X射线透射厚度,进而根据公式获得密度值,更加准确的判断物质属性；定义密度信息特征值,构建密度信息数据库；最后对研究内容进行总结。