光通信的飞速发展使半导体激光器的需求量日益增长,随着半导体激光器生产规模的不断扩大,迫切要求能够快速准确地测量半导体激光器的各种基本特性,包括表示激光器电抗特性的电流电压(V-I)曲线、表示电光转化特性的功率电流(P-I)曲线、阈值电流I<,th>、输出功率Po对驱动电流I<,F>的微分和驱动电压V<,F>对驱动电流I<,F>的微分等特性曲线,所以提供一套测量这些参数的自动化装置是十分必要的.该课题所设计的半导体激光器参数测试仪,就是一种能够自动测量上述参数的仪器,具有控制精度高、控制温度范围大、使用方便等优点.在设计的半导体激光器参数测试控制系统中,选用日立单片机HD64F7045F28作为数字电路的处理器,控制整个系统的运行,并对采集的数据进行本地处理.设计了数据采集和接口控制模块,通过FPGA控制A/D和D/A,实现了多路数据的采集和收发,节省了单片机的资源,提高了系统的可靠性,使系统的柔性得到了增强.在通过硬件实现TCP/IP协议规范的基础上,设计了半导体激光器参数测试仪的以太网接口电路与计算机进行通信,实现上述参数的远程测量.在设计合理的硬件电路后,编写硬件电路的控制软件和以太网接口通信软件.该系统把以太网接口和半导体激光器参数测试仪结合起来,为半导体激光器测试领域提供了一种通用的检测系统组建方法、完善的测试方法.采用这一系统可以使得数据传送更加快速,测试更加便捷.由于采用了模块化设计方式,若整个系统经过简单改造就可用于其他的数据采集和处理系统,具有一定的通用性.