该论文研究了影响近场测量系统副瓣测试精度的各种误差和近场诊断两方面的很多关键问题,重点研究了近场测量的误差分析与补偿技术以及阵列天线的近场诊断.为了得到近场测量系统副瓣测试精度,利用近场测试系统的参数确定测试点的位置误差,分析了这种位置误差对远场方向图的影响.根据扫描面的选取准则,模拟了扫描面有限引起的截断误差对远场方向图的影响.根据HP85301B接收机的非线性误差特性研究了接收机非线性误差对远场方向图的影响.根据Nyqui st定理和扫描点的取样间隔阐明了混迭误差对远场方向图的影响.分析了系统的相位误差对远场方向图的影响.根据测量的实际情况模拟了环境对远场方向图的影响.利用自比较法测量并计算出多次耦合对远场方向图的影响.改进了误差迭加的传统方法,给出了总误差曲线.对平面近场测量系统副瓣测试精度给出了合理的评估.从被测天线(AUT)和探头的耦合方程出发,利用Nyquist定理,推导出了扫描面上近场和波谱函数之间的矩阵方程.用共轭梯度法(CG)求解这一矩阵方程,得到波谱函数.从而计算出远场方向图.这种方法,只需要知道测量点的位置就足够,并不要求测量点必须位于一些特定的点上.计算结果表明,此方法可以有效地消除常规平面近场测量中的位置误差的影响.提出了阵列天线近场诊断的一种新方法,传统的方法要想诊断出阵列天线的单元的激励,必须知道单元的方向图和探头的方向图;该方法基于阵列天线的激励、单元方向图、探头方向图和近场测量数据之间的关系,得到阵列天线的激励和近场测量数据之间的耦合方程.利用差值,在不知道单元的方向图和探头的方向图的情况下,可以求解出阵列天线的单元激励.基于上面的理论详细研究了一种基于近场诊断的近远场变换方法.该方法基于阵列天线的激励系数、单元方向图、探头方向图和平面近场测量数据之间的关系,适当的选取测量点的位置并且利用差值推导出它们之间的非线性方程组.