矿产勘查中，大比例尺的矿区地质填图是必须开展的地质工作之一。在浮土覆盖广泛、植被发育或者风化剧烈的工作区，地质工作往往很难进行。针对这种情况，地质工作者一直在研究和探索其它地质填图方法。目前除传统地质填图方法外，普通物化探方法、γ能谱测量等都逐步被引入到地质填图工作中。不过，到目前为止，尚未见到用X射线荧光现场测量技术进行地质填图的报道。 本文探讨了采用X射线荧光现场测量技术开展大比例尺地质填图的理论依据、测试技术、数据处理方法、地质界线划分方法等问题，在此基础上，建立了一套简便易行的现场X射线荧光测量填图工作方法。在理论研究的基础上，采用X射线荧光现场测量技术对四川炉霍县某金矿勘查区和重庆某锶矿勘查区等地进行了地质填图试验。上述地区的应用试验结果表明：本文所提出的现场X荧光填图方法理论基础可靠、仪器小巧轻便、方法简便易行、速度快、准确度满足要求，是一种值得推广应用的新的填图方法。