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本文利用混合蛙跳算法模型对老化测试矢量的优化选择以及SoC的测试方案优化问题进行了研究。 老化测试是芯片测试中的重要环节。它用以保证芯片的质量和可靠性。传统的老化测试方法是将芯片放入老化炉内，通过施加环境温度，使芯片升温。为了提高老化测试的效率，本文对传统老化测试方法进行了改进。本文利用漏电功耗与温度的正反馈关系，通过给老化炉中的芯片施加一个特殊矢量，来提高老化测试效率。这个特殊矢量的选择是通过蛙跳算法搜索的得到的，而蛙跳算法所需要的初始化矢量是通过ATPG的方法得到的。 此外，本文还利用蛙跳算法对SoC（片上系统）测试方案优化问题进行了研究。SoC的测试方案优化问题主要包括测试壳的优化设计、TAM（测试存取机制）的优化、调度。其中TAM的优化问题可以当做固定TAM带宽的测试调度问题。SoC的测试优化的目标主要是降低测试时间。本文针对这一问题完成的主要工作包括: 1.利用蛙跳算法对固定TAM带宽的条件下二维SoC的测试调度问题进行了研究，并用基准电路实验验证了方法的有效性。 2.利用蛙跳算法对可变TAM带宽的条件下，并在峰值功耗约束下的二维SoC的测试调度问题进行了研究，并用基准电路进行了实验，验证了方法的有效性。 3.利用蛙跳算法对三维SoC在峰值功耗和TSV数量的约束下的测试调度问题进行了研究，并用基准电路进行了实验，验证了方法的有效性。 通过对基准电路的仿真和测试结果可以看出，通过本文所述方法，能有效地解决老化测试矢量优化选择以及SoC（片上系统）测试方案优化问题的研究。