工业CT技术是一种非常重要的无损检测手段。在人们对工业CT技术进行深入研究和广泛使用的过程中,发现了许多有待解决和需进一步深入探讨的问题。其中,对CT图像中因探测器串扰而产生的伪影进行分析研究就是热点之一。研究探测器串扰的大小和影响它的因素,以及串扰伪影对CT图像的影响,从而找到消除或减轻串扰产生的图像伪影的方法具有十分重要的工程应用价值。本文主要的研究工作包括三个方面的内容。根据工业辐射探测器的工作机理和结构特点,把探测器串扰分为一致的串扰、模块边缘串扰,并利用蒙特卡洛方法对这两种串扰进行了模拟仿真;分析了这两种串扰对CT图像的影响;分析了常见的抑制串扰的三种方法,并模拟实现了其中的两种方法。利用EGSnrc软件仿真得到了80keV~650keV的低能X射线能谱,为本文的仿真实验提供了射线源输入文件;根据300BXR低能X射线CT系统的探测器结构,编写了探测器模块程序,为本文的仿真实验提供了探测器模块的输入文件。建立了上述两种串扰的仿真模型,并重建出相应的CT图像。模拟仿真结果表明:探测器串扰不仅会降低CT图像的空间分辨率,而且会导致CT图像上出现大量的环状或者是条状伪影。从入射X光子能量、准直器距探测器的距离、照射面积、被检测物体的厚度等方面分别进行了仿真分析,得到了影响串扰的几个重要因素和影响程度的关系,为探测器的设计和串扰的校正提供了依据。最后介绍了抑制串扰的三种方法。第一,添加隔离层减小串扰;第二,测得串扰系数,并据此系数校正串扰;第三,从图像上来去除因串扰产生的伪影,分析对比了三种方法的优缺点,并模拟实现了前两种方法对串扰伪影的校正。校正后的图像空间分布率提高,串扰伪影明显减少。