SoC产品如芯片、SD卡、SIM卡等已被广泛应用于各种各样的智能设备中。在一些信息安全、军事应用等特殊领域,对SoC产品的良品率要求非常高,故需要对封装后的SoC产品的功能模块进行严格测试,以剔除不良品。常用的测试手段采用人工手动测试,效率低,资源耗费多。因此,设计一种自动化测试系统对于提高SoC产品的测试效率具有重要意义。本文结合所在实习公司的测试项目,提出了一种基于CAN总线的测试方案,该方案可以实现对标准SD卡、Mini SD卡和Micro SD卡等SoC产品的功能模块如Nor flash、SRAM、DES、AES等进行自动化批量测试,提高测试效率,降低测试成本。该测试方案具有扩展性强、成本低、控制灵活等特点。本文首先根据测试系统的设计目标,确定整体设计方案,明确系统主要组成部分及各部分所需实现的功能。考虑到可靠性和成本问题,采用CAN总线和I2C总线相结合的双总线架构实现系统中各模块之间的通信。其次,完成测试系统的硬件设计。硬件模块主要包括ARM最小系统、CAN总线接口电路、串行通信接口电路、测试接口电路等。再次,组建了系统的通信网络,实现了CAN通讯程序设计和I2C通讯程序设计。包括CAN节点初始化、报文发送、报文接收、CAN中断处理,I2C通信设计和I2C中断处理等。然后,采用VC2005开发平台进行上位机程序开发,实现总控模块和上位机的串口通信,并实现了上位机控制界面的设计,用于测试参数的设置和测试结果的显示。最后,完成测试系统的应用调试。该测试系统目前已经应用于SD卡的自动化批量测试中,从测试结果可以看出,本文设计的测试系统能够满足测试要求,实现对标准SD卡、Mini SD卡和Micro SD卡的Nor flash、SRAM、DES、AES等模块进行自动化批量测试。在相同时间内,此测试系统能测试SD卡80pcs,是单个测试模块测试效率的52倍。