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采用ＸＲＤ法研究了含２．０、２．５、２．７５ｍｏｌＹ〈，２〉Ｏ〈，３〉稳定ＺｒＯ〈，２〉陶瓷经不同的微波处理工艺下相变量的规律，研究结果表明上理温度和时间，可使材料获得较高的断裂相变量，最佳处理温度和保温时间分别为１２００℃和１０ｍｉｎ，进而提出优化处理准则。研究分析表明断裂相变量的改善微观机理在于微波电磁场对瓷体内部Ｙ〈’３＋〉置换Ｚｒ〈’４＋〉后形成电荷不平衡而发生作用，重新对稳定剂的非均匀分布的进行调整，强化富钇壳层而对ｔ－ＺｒＯ〈，２〉施加了约束驱动力。