混合集成电路的失效分析

来源 :2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：ailynn

【摘要】

：

通过对两种混合集成电路即温控电路及隔离放大器BB3656BG的失效分析,表明以下观点:(1)对混合集成电路的分析,应通过电路内部测试,测量电路工作状态下各个关键部位的参数乃至动态波形;(2)深入的分析过程有利于对电路透彻的了解及促进同类型电路分析的深度有利于使分析结论更趋准确.

【作者】

：

樊晓团何振山

【机构】

：

西安微电子技术研究所(西安)

【出处】

：

2001年全国电源技术应用研讨会,2001年全国电子元器件应用研讨会

【发表日期】

：

2001年4期

【关键词】

：

混合集成电路失效分析电路测试温控电路隔离放大器

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