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该文采用热剌激电流法和介电频谱测试技术研究了聚丙烯薄膜受高能电子束辐照不同吸收剂量后介质微观参数和宏观电性能的变化。实验表明，在该文所研究的吸收剂量范围（１０＃+[3]Ｇｙ～１０＃+[5]Ｇｙ），介质中因辐照而生产的陷阱密度的吸收剂量的对数成正比，介质损耗角正切也随吸收剂量升高而增大，而介电常数则无明显变化。通过分析可知，介质性能的变化起因于氧化作用、辐射交联和辐射裂解。（本刊录）