XRD法快速测定铝电解质相关含量

来源 :帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lbo
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本文提出了一种全新测定铝电解质成分方法,即XRD法.采用X射线衍射仪在3分钟时间内,可以准确的测定出铝电解质中的冰晶石、亚冰晶石、氟化钙、氧化铝、氟化锂、氟化钾、游离氟化钠、游离氟化铝等物相,并根据各物相的成分含量,计算出指导电解生产的分子比.为了此方法的应用推广,研制了一套适合测定上述成分的铝电解质标准样品.
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