基于IEEE1149.6标准的PCB交流电路测试技术研究

来源 :第十五届计算机工程与工艺年会暨第一届微处理器技术论坛 | 被引量 : 0次 | 上传用户:NSWDAR
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为了解决PCB上高速数字电路采用耦合电容造成直流扫描测试无法正常进行的问题,基于IEEE1149.6的交流测试方法得到广泛的运用,它已经成为PCB边界扫描测试的重要组成部分.本文从交流测试的原理出发,首先介绍了使用迟滞比较器解决跳变引起的共模信号干扰问题,提出了可能的驱动器和接收器设计方案,并对新增的两个交流测试指令做了解析,随后详细阐述了PCB板级故障类型以及故障产生的原因,重点分析了差分耦合电路故障的测试和判定方法.
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