在科技考古和古陶瓷研究领域中,X荧光技术已经广泛应用.作为小型化的手持式X荧光仪是新近发展的受欢迎的设备:有较好的科技性能,重量轻,尺寸小,便于到工地和现场应用.BRUKER公司生产的TRACER Ⅲ-SD是一款手持式小型X荧光仪.其核心部件包括小型X光管,工作负载可达40KV-10微安.探测器采用高分辨,电致冷"硅漂移探测器"(Silicon Drift Detector),极大地改善了探测灵敏度和高计数率性能.对能量为5.9KeV的X射线,能量分辨率为145eV(FWHM).系统最高计数率可大于100kc/sec.TRACER配有一个小型真空泵,在测试样品和探测器之间产生一个真空,真空度可达4-5Tor.X光管发射的X射线以45度入射到样品上,探测器和样品间夹角为45度.X射线束斑面积为3mm×4mm.质子激发X荧光(PIXE)测量是在复旦大学进行的,采用改进的外束PIXE技术,从串列加速器9SDH-2得到能量为3.0 MeV的质子束作为入射束.分析样品发射的X射线用Si(Li)探测器测量.探测系统对能量为5.9KeV的X射线能量分辨率(FWHM)为165eV.测量的能谱用GUPIX程序处理.为了保证测量的可靠性,每次实验都用标证样品GSD6进行检验.本文将报导用TRACER测量古瓷器化学组分的结果和PIXE的测量结果进行一些对比。PIXE方法和XRF技术测量陶瓷样品的深度不同。鉴测Tracer Ⅲ-SD测量陶瓷样品的误差范围，用Tracer Ⅲ-SD测量了金村窑青瓷样品的胎和釉的化学组分。TracerⅢ-SD的工作曲线是开放的，可以用必要的标样加入工作曲线。应用范围取决于标样的元素种类和范围。