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本文通过金相和电子背散射衍射等检测方法研究了大尺寸单晶叶片中小角度晶界的形成与演化过程。结果表明，在大尺寸单晶叶片生长过程中，沿着生长方向，随叶片高度的增加，其横截面上一次枝晶排列规则程度减弱；叶身出现小角度晶界，其取向差角度与出现频率随高度变化明显增加；晶体取向测试表明，扩展区枝晶取向分布较为集中，而叶身枝晶取向分散度增大，但仍与扩展区取向分布接近。分析小角晶界产生的原因，可能与模壳阻碍导致枝晶变形及单晶尺寸增大导致固液界面形态、温度梯度变化，最终引起枝晶偏转有关。