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用单能慢正电子方法研究材料在快中子束辐照下其性能将产生变异现象,发现快中子辐照在金属中产生空位型缺陷.单能慢正电子束是研究快中子引起的溅射所产生的辐照缺陷的有效手段,研究发现正表面近表面区域得空位型缺陷浓度大于体内的浓度,而且正表面的空位型缺陷明显大于背面.与溅射理论与实验结果一致.
快中子溅射引起的辐照缺陷的实验测量
【摘 要】
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用单能慢正电子方法研究材料在快中子束辐照下其性能将产生变异现象,发现快中子辐照在金属中产生空位型缺陷.单能慢正电子束是研究快中子引起的溅射所产生的辐照缺陷的有效手
【机 构】
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中国科学技术大学近代物理系核固体物理实验室
【出 处】
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第八届全国正电子谱学会议
【发表日期】
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2002年6期
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