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GaAs器件寿命试验中，器件的性能参数退化与结温密切相关，本文对其如何确定结温问题进行展开，介绍了热阻的定义以及目前测试热阻常用的方法。针对GaAs器件的长期使用中出现的参数漂移、输出功率下降等问题，试验设计了4种相关的单机理评价结构，并使用电参数测试法确定出GaAs加速寿命试验中最合适的环境温度。