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本文介绍了钼同位素丰度的负热电离质谱(NTIMS)测量方法。该方法采用双铼带结构，以Sr(NO3)2作发射剂，并优化了涂样方法，使得1ug钼产生了100mv以上的稳定MoO3-离子流。测量数据扣除了氧同位素的影响。该方法避免了钼的正离子质谱测量法的缺点，使得涂样量更小(＜2ugMo)，测量时间更短(10-15分)，精度更高(RSD在0.02％-0.17％之间)，数据更可靠(与标准值的相对误差在0.002％-0.2％之间)。