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芯片调试需要尽可能获取芯片内部状态信息,但存储器的内容不容易直接读出。本文提出了一种基于存储器内建自测试的存储器的调试访问方法,并设计存储器调试控制器MT,MT基于MBIST控制器,只增加一个调试控制寄存器、一个调试数据寄存器、一个译码器和若干多路选择器等少量逻辑,可实现对任意存储器的任意地址的调试访问。