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采用扫描电镜(SEM)及能谱(EDS)等方法对断裂的电容器引脚断裂原因进行分析.结果表明电容器在振动过程中应力在引脚焊接部位的表面裂纹处集中,产生疲劳裂纹,后期受到腐蚀介质的侵袭,最终导致了引脚断裂.
电容器引脚断裂原因分析
【摘 要】
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采用扫描电镜(SEM)及能谱(EDS)等方法对断裂的电容器引脚断裂原因进行分析.结果表明电容器在振动过程中应力在引脚焊接部位的表面裂纹处集中,产生疲劳裂纹,后期受到腐蚀介质的侵袭,最终导致了引脚断裂.
【机 构】
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工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室),广州510610
【出 处】
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2017中国高端SMT学术会议
【发表日期】
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2017年4期
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